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棋盤(pán)式畸變測試卡
棋盤(pán)式畸變測試卡

棋盤(pán)式畸變測試卡

品牌:Sine Image
型號:YE06
尺寸:280 x 210mm
比例:4:3
類(lèi)型:反射式/透射式可選

產(chǎn)品詳情

棋盤(pán)式畸變測試卡簡(jiǎn)介

棋盤(pán)式畸變測試卡用于檢查攝像機的幾何失真及分辨率

The YE06 test chart is designed for checking geometry and resolution.

棋盤(pán)式畸變測試卡參數

測試卡類(lèi)似于一個(gè)由13×18的黑色和白色正方形區域以及由矩形區域在對應于電子測試生成器14/19網(wǎng)格光柵線(xiàn)邊緣所包圍的棋盤(pán)。(整個(gè)圖卡發(fā)生器的水平網(wǎng)格線(xiàn)被劃分為相應于42行)。

Similar to a chessboard the test charts is composed of 13 x 18 black and white square fields which are surrounded by rectangular fields at the edges that correspond to the 14/19 grid raster lines of electronic test generators. (The division of the horizontal grid lines of these generators corresponds to 42 lines per complete picture.)

棋盤(pán)式畸變測試卡使用

·檢查幾何形狀和光柵的一致性,如果有必要用電子生成網(wǎng)格的裝置。
·Checking geometry and the congruency of raster, by means of an electronically generated grid, if necessary

·檢查信號生成的均勻性。
·Checking the uniformity of the signal generation

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